Mecatronica
PROYECTO DE NORMA EN CONSULTA PUBLICA
NCh2450.cR2009
ISO/IEC Guide 99:2007
Vocabulario internacional de metrología - Conceptos
básicos y generales y términos asociados (VIM)
Preámbulo
El Instituto Nacional de Normalización, INN, es el organismo que tiene a su cargo el
estudio y preparación de las normas técnicas a nivel nacional. Es miembrode la
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION (ISO) y de la COMISION
PANAMERICANA DE NORMAS TECNICAS (COPANT), representando a Chile ante esos
organismos.
Este proyecto de norma se estudió a través del Comité Técnico Magnitudes y Unidades
para proporcionar un conjunto de definiciones y términos asociados, para un sistema de
conceptos básicos y generales utilizados en metrología,junto con diagramas de conceptos
para demostrar sus relaciones. También está previsto para servir de referencia a
científicos, ingenieros, diversos profesionales y a múltiples organizaciones.
Este proyecto de norma es idéntico a la versión en inglés de la Guía Internacional ISO/IEC
Guide 99:2007 International vocabulary of metrology - Basic and general concepts and
associated terms (VIM).
Paralos propósitos de este proyecto de norma, se han realizado los cambios editoriales
que se indican y justifican en Anexo E.
La Nota Explicativa incluida en un recuadro en Anexo Bibliografía, es un cambio editorial
que se incluye con el propósito de informar la correspondencia con norma chilena de las
Normas Internacionales citadas en este proyecto de norma.
El proyecto de norma NCh2450 ha sidopreparado por la División de Normas del Instituto
Nacional de Normalización.
I
NCh2450
Los Anexos A, B, C, D y E no forman parte del proyecto de norma, se insertan sólo a
título informativo.
Este proyecto de norma anulará y reemplazará, cuando sea declarado Norma Chilena
Oficial, a la norma NCh2450.Of1998 Vocabulario de términos fundamentales y
generales de metrología, declaradaOficial de la República por Resolución Nº 647 de
fecha 11 de diciembre de 1998, del Ministerio de Economía, Fomento y Reconstrucción,
publicada en el Diario Oficial del 21 de diciembre de 1998.
II
NCh2450
Contenido
Página
Preámbulo
I
0
Introducción
1
0.1
Generalidades
1
0.2
Historia del VIM
3
0.3
Convenciones
4
1
Alcance y campo de aplicación6
2
Magnitudes y unidades
7
3
Mediciones
20
4
Dispositivos de medición
35
5
Propiedades de los dispositivos de medición
38
6
Patrones de medición
45
Anexos
Anexo A (informativo) Diagramas de conceptos
52
Anexo B (informativo) Bibliografía
67
Anexo C (informativo) Listado de siglas
73
III
NCh2450
Contenido
Página
Anexo D(informativo) Indice
75
Anexo E (informativo) Justificación de los cambios editoriales
81
Figuras
Figura A.1 Diagrama de concepto para parte de cláusula 2 alrededor de
magnitud
55
Figura A.2 Diagrama de concepto para parte de cláusula 2 alrededor de
unidad de medida
56
Figura A.3 Diagrama de concepto para parte de cláusula 3 alrededor de
medición
57
Figura A.4Diagrama de concepto para parte de cláusula 3 alrededor de
valor de una magnitud
58
Figura A.5 Diagrama de concepto para parte de cláusula 3 alrededor de
precisión de la medición
59
Figura A.6 Diagrama de concepto para parte de cláusula 3 alrededor de
incertidumbre de medición
60
Figura A.7 Diagrama de concepto para parte de cláusula 3 alrededor de
calibración
61
FiguraA.8 Diagrama de concepto para parte de cláusula 3 alrededor de
valor medio de una magnitud
62
Figura A.9 Diagrama de concepto para parte de cláusula 4 alrededor de
sistema de medición
63
Figura A.10 Diagrama de concepto para parte de cláusula 5 alrededor de
propiedades metrológicas de un instrumento de medición o sistema de
medición
64
Figura A.11 Diagrama de concepto para...
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