resumen

Con el reflectómetro de rayos X Siemens D5000 la caracterización altamente precisa y no destructiva de película delgada o de muestras multicapa se convierte en una tarea sencilla y de resolucióninmediata. Con él se pueden determinar espesores de capa, densidades, rugosidades de superficie e interfase, así como secuencias de capas. Su campo de aplicación se encuentra tanto en control de procesoscomo en la investigación. Como ejemplos de materiales de interés se pueden citar entre otros: vidrio técnico, metales, semiconductores, superconductores, materiales cerámicos, etc. El dispositivopermite medidas por difracción de rayos X para análisis cristalográficos de fases, determinación del tamaño cristalino o determinación de estructuras sin modificar su configuración.IN-REFSIM, porejemplo, es el nuevo programa de evaluación que corre bajo MS-WINDOWS. Calcula reflectogramas y lleva acabo automáticamente un refino del modelo de la muestra comparandola simulación con el reflectogramamedido (Fig. 1). Se puede realizar cualquier tipo de simulación de muestras, por ejemplo, mono capas, multicapas, multicapas periódicas, gradientes de capa así como gradientes en multicapas


LaDifracción de Rayos X (DRX) es una técnica que permite la identi­cación de minerales presentes en una muestra de cerámica a partir del registro de los rayos X difractados por los cristales de la muestra. Loscristales son formaciones simétricas de átomos que contienen ­las y planos de alta densidad atómica y son capaces de actuar como redes tridimensionales de difracción, pues la separación entre las ­lasparalelas de átomos igualmente espaciados o planos atómicos es del orden de la longitud de onda de los rayos X. Cuando los rayos X de una determinada frecuencia golpean un átomo, interactúan con suselectrones haciendo que vibren con la frecuencia de los rayos X, retransmitiendo los rayos X sin cambio en la frecuencia. Estos rayos re- ectados se alejan de los átomos en cualquier direcciónEn...